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超大规模集成电路测试系统
- 制造厂商:泰瑞达
- 购置日期:2009-09-24
- 型号:J750EX
- 生产国别:
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- 功能/应用范围: 用于测试数字逻辑芯片、混合信号芯片、片上系统SoC芯片等产品,覆盖MCU、CPU、DSP、HDTV、ADC/DAC、flash memory等产品。
- 主要附件: MSO、CTO、MTO
- 主要技术指标: 数字板:测试通道1024,测试频率200MHz;
PPMU:-2~7V,0-2mA;
BPMU:-24~24V,0-200mA;
DPS:0-10V,0-1A;
- 技术特色: J750EX主要用于测试数字逻辑芯片、混合信号芯片、片上系统SoC芯片等复杂度较高的产品,高达1024pin的测试通道,满足集成度高、测试引脚多的产品要求,可以开发并行测试,极大的提高测试效率,降低测试成本,上海华岭具备强大的程序开发和硬件设计能力,满足客户从测试开发、分析、验证、优化、量产测试的整体测试解决方案。