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中芯国际集成电路制造（上海）有限公司分析测试中心中芯国际集成电路制造(上海)测试中心

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栅氧化层

检测能力
  • 栅氧化层经时击穿测试
    能力名称：栅氧化层经时击穿测试
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：栅氧化层经时击穿特征表现流程/JESD92:2003
    限制说明：只测： 电压：-100V ~100V 电流：1nA~1A 8寸、12寸晶圆
    资质说明：
  • 栅氧化层经时击穿测试
    能力名称：栅氧化层经时击穿测试
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：工厂制程资格认证指导方针 第10.2条/JP001A:2004
    限制说明：只测： 电压：-100V ~100V 电流：1nA~1A 8寸、12寸晶圆
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栅氧化层经时击穿测试 栅氧化层经时击穿特征表现流程 JESD92:2003 只测： 电压：-100V ~100V 电流：1nA~1A 8寸、12寸晶圆
栅氧化层经时击穿测试 工厂制程资格认证指导方针 第10.2条 JP001A:2004 只测： 电压：-100V ~100V 电流：1nA~1A 8寸、12寸晶圆