检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 | |||||
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ADC微分线性误差 | 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 | SJ20961-2006 | 只测: 16bit及以下ADC、DAC | ||||||
DAC微分线性误差温度系数 | 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 | SJ20961-2006 | 只测: 16bit及以下ADC、DAC | ||||||
DAC失调误差 | 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 | SJ20961-2006 | 只测: 16bit及以下ADC、DAC | ||||||
ADC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流 | 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 | SJ20961-2006 | 只测: 16bit及以下ADC、DAC | ||||||
ADC微分线性误差温度系数 | 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 | SJ20961-2006 | 只测: 16bit及以下ADC、DAC | ||||||
ADC失码 | 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 | SJ20961-2006 | 只测: 16bit及以下ADC、DAC | ||||||
DAC微分线性误差 | 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 | SJ20961-2006 | 只测: 16bit及以下ADC、DAC | ||||||
ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压 | 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 | SJ20961-2006 | 只测: 16bit及以下ADC、DAC | ||||||
DAC顺从电压范围 | 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 | SJ20961-2006 | 只测: 16bit及以下ADC、DAC | ||||||
DAC建立时间 | 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 | SJ20961-2006 | 只测: 16bit及以下ADC、DAC | ||||||