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半导体集成电路模拟开关

检测能力
  • 导通态漏电流
    能力名称:导通态漏电流
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 最高控制频率
    能力名称:最高控制频率
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 截止态源极漏电流
    能力名称:截止态源极漏电流
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 截止态隔离度
    能力名称:截止态隔离度
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 导通态串扰衰减
    能力名称:导通态串扰衰减
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 通道转换时间
    能力名称:通道转换时间
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 截止态漏极漏电流
    能力名称:截止态漏极漏电流
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 导通电阻路差
    能力名称:导通电阻路差
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 控制信号串扰
    能力名称:控制信号串扰
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 导通电阻
    能力名称:导通电阻
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 输入串扰衰减
    能力名称:输入串扰衰减
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 开启时间
    能力名称:开启时间
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 模拟电压工作范围
    能力名称:模拟电压工作范围
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 关断时间
    能力名称:关断时间
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:
  • 截止态馈通频率
    能力名称:截止态馈通频率
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理/GB/T14028-1992
    限制说明:
    资质说明:

检测分类

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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
导通态漏电流 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992
最高控制频率 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992
截止态源极漏电流 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992
截止态隔离度 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992
导通态串扰衰减 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992
通道转换时间 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992
截止态漏极漏电流 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992
导通电阻路差 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992
控制信号串扰 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992
导通电阻 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T14028-1992