检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
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输出高阻态时高电平电流 | 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路测试方法基本原理 | GB/T 17574-1998 |
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输出高阻态时低电平电流 | 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路测试方法基本原理 | GB/T 17574-1998 |
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输入钳位电压 | 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路测试方法基本原理 | GB/T 17574-1998 |
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输入低电平电流 | 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路测试方法基本原理 | GB/T 17574-1998 |
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输入高电平电流 | 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路测试方法基本原理 | GB/T 17574-1998 |
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输出高电平电压 | 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路测试方法基本原理 | GB/T 17574-1998 |
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输出低电平电压 | 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路测试方法基本原理 | GB/T 17574-1998 |
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输出短路电流 | 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路测试方法基本原理 | GB/T 17574-1998 |
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电源电流 | 半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路测试方法基本原理 | GB/T 17574-1998 |
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