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中芯国际集成电路制造（上海）有限公司分析测试中心中芯国际集成电路制造(上海)测试中心

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集成电路芯片

检测能力
  • 扫描电子显微镜分析
    能力名称：扫描电子显微镜分析
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路失效分析程序和方法/GJB3233-1998
    限制说明：不测: 束感生电流
    资质说明：
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扫描电子显微镜分析 半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 不测: 束感生电流