检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
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输出低电平电压VOL | 半导体集成电路英钟表电路测试方法的基本原理 | GB/T15136-1994 | 只测:电压:±25V,电流:±1A | |
电源电流IDD | 半导体集成电路英钟表电路测试方法的基本原理 | GB/T15136-1994 | 只测:电压:±25V,电流:±1A | |
输出高电平电流IOH | 半导体集成电路英钟表电路测试方法的基本原理 | GB/T15136-1994 | 只测:电压:±25V,电流:±1A | |
输出高电平电压VOH | 半导体集成电路英钟表电路测试方法的基本原理 | GB/T15136-1994 | 只测:电压:±25V,电流:±1A | |
输入低电平电流IIL | 半导体集成电路英钟表电路测试方法的基本原理 | GB/T15136-1994 | 只测:电压:±25V,电流:±1A | |
输出低电平电流IOL | 半导体集成电路英钟表电路测试方法的基本原理 | GB/T15136-1994 | 只测:电压:±25V,电流:±1A | |
输入高电平电流IIH | 半导体集成电路英钟表电路测试方法的基本原理 | GB/T15136-1994 | 只测:电压:±25V,电流:±1A |