检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 | |||||
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低气压 | 半导体器件机械和气候试验方法 | GB/T4937-1995 第Ⅲ篇 | 只测60kPa |
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辐射图,半强度角 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 | GB/T 15651.3-2003 | 只测半角强度 |
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不工作器件 | 半导体器件光电子器件分规范 | GB/T12565-1990 |
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耐焊接热 | 半导体器件机械和气候试验方法 | GB/T 4937-1995 |
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正向电压 | 半导体器件 分立器件第Ⅳ章 |
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尺寸 | 半导体器件光电子器件分规范 | GB/T12565-1990 |
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电耐久性 | 半导体器件光电子器件分规范 | GB/T12565-1990 |
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外部目检 | 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006 | IEC 60747-10:1991 |
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机械冲击或振动 | 半导体器件 机械和气候试验方法 | GB/T4937-1995 第Ⅱ篇 | 振动台最大负荷500kg |
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引出端强度 | 半导体器件机械和气候试验方法 | GB/T 4937-1995 | 只测拉力,弯曲 |
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