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天津市电子仪表实验所天津电子仪表实验所

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半导体分立器件发光二极管

检测能力
  • 低气压
    能力名称:低气压
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件机械和气候试验方法/GB/T4937-1995 第Ⅲ篇
    限制说明:只测60kPa
    资质说明:
  • 辐射图,半强度角
    能力名称:辐射图,半强度角
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法/GB/T 15651.3-2003
    限制说明:只测半角强度
    资质说明:
  • 不工作器件
    能力名称:不工作器件
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件光电子器件分规范/GB/T12565-1990
    限制说明:
    资质说明:
  • 耐焊接热
    能力名称:耐焊接热
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件机械和气候试验方法/GB/T 4937-1995
    限制说明:
    资质说明:
  • 正向电压
    能力名称:正向电压
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件 分立器件第Ⅳ章/
    限制说明:
    资质说明:
  • 尺寸
    能力名称:尺寸
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件光电子器件分规范/GB/T12565-1990
    限制说明:
    资质说明:
  • 电耐久性
    能力名称:电耐久性
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件光电子器件分规范/GB/T12565-1990
    限制说明:
    资质说明:
  • 外部目检
    能力名称:外部目检
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006/IEC 60747-10:1991
    限制说明:
    资质说明:
  • 机械冲击或振动
    能力名称:机械冲击或振动
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件 机械和气候试验方法/GB/T4937-1995 第Ⅱ篇
    限制说明:振动台最大负荷500kg
    资质说明:
  • 引出端强度
    能力名称:引出端强度
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件机械和气候试验方法/GB/T 4937-1995
    限制说明:只测拉力,弯曲
    资质说明:
  • 峰值发射波长
    能力名称:峰值发射波长
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法/GB/T 15651.3-2003
    限制说明:
    资质说明:
  • 温度变化
    能力名称:温度变化
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009
    限制说明:
    资质说明:
  • 稳态湿热
    能力名称:稳态湿热
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件 机械和气候试验方法/GB/T4937-1995 第III篇
    限制说明:工作室尺寸:长×宽×高100cm×100cm×100cm,温度范围:-70℃~+150℃
    资质说明:
  • 可焊性
    能力名称:可焊性
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件机械和气候试验方法/GB/T 4937-1995
    限制说明:只测方法1
    资质说明:
  • 温度快速变化继之以湿热循环
    能力名称:温度快速变化继之以湿热循环
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件机械和气候试验方法/GB/T 4937-1995
    限制说明:
    资质说明:
  • 反向电流
    能力名称:反向电流
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件 分立器件第Ⅳ章/
    限制说明:
    资质说明:
  • 发光强度
    能力名称:发光强度
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法/GB/T 15651.3-2003
    限制说明:
    资质说明:

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
低气压 半导体器件机械和气候试验方法 GB/T4937-1995 第Ⅲ篇 只测60kPa
辐射图,半强度角 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003 只测半角强度
不工作器件 半导体器件光电子器件分规范 GB/T12565-1990
耐焊接热 半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995
正向电压 半导体器件 分立器件第Ⅳ章
尺寸 半导体器件光电子器件分规范 GB/T12565-1990
电耐久性 半导体器件光电子器件分规范 GB/T12565-1990
外部目检 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006 IEC 60747-10:1991
机械冲击或振动 半导体器件 机械和气候试验方法 GB/T4937-1995 第Ⅱ篇 振动台最大负荷500kg
引出端强度 半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 只测拉力,弯曲