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西安卫光科技有限公司检测中心西安卫光检测中心

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半导体分立器件类固定电容器

检测能力
  • 损耗角
    能力名称:损耗角
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:电子设备用固定电容器第一部分:总规范/GB/T2693-2001
    限制说明:
    资质说明:
  • 外观及机械检验
    能力名称:外观及机械检验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明:
    资质说明:
  • 低温测试
    能力名称:低温测试
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明:只测:7001/LF2 100L W450*H500*D450(mm),TSG2055W 200L W650*H500*D450(mm)温度范围:-70℃~-40℃
    资质说明:
  • 老炼试验
    能力名称:老炼试验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548 B-2005
    限制说明:
    资质说明:
  • 绝缘电阻
    能力名称:绝缘电阻
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明:
    资质说明:
  • 绝缘电阻
    能力名称:绝缘电阻
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明:
    资质说明:
  • 绝缘电阻
    能力名称:绝缘电阻
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548 B-2005
    限制说明:
    资质说明:
  • 电容量
    能力名称:电容量
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明:
    资质说明:
  • 高温测试
    能力名称:高温测试
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明:只测:LC-222 166L W450*H820*D450(mm)TSG2055W 200LW650*H500*D450(mm),温度范围:85℃~200℃
    资质说明:
  • 高温寿命
    能力名称:高温寿命
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明:只测:LC-222 166L W450*H820*D450(mm)LC-223 166L W600*H750*D500(mm)DGF30022B 166LW600*H750*D500(mm) ,温度范围:85℃~175℃
    资质说明:

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
损耗角 电子设备用固定电容器第一部分:总规范 GB/T2693-2001
外观及机械检验 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
低温测试 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 只测:7001/LF2 100L W450*H500*D450(mm),TSG2055W 200L W650*H500*D450(mm)温度范围:-70℃~-40℃
老炼试验 微电子器件试验方法和程序 GJB548 B-2005
绝缘电阻 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
绝缘电阻 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
绝缘电阻 微电子器件试验方法和程序 GJB548 B-2005
电容量 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
高温测试 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 只测:LC-222 166L W450*H820*D450(mm)TSG2055W 200LW650*H500*D450(mm),温度范围:85℃~200℃
高温寿命 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 只测:LC-222 166L W450*H820*D450(mm)LC-223 166L W600*H750*D500(mm)DGF30022B 166LW600*H750*D500(mm) ,温度范围:85℃~175℃