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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心中电第十四研究所

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元器件半导体分立器件筛选

检测能力
  • 老炼试验
    能力名称：老炼试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：只测:Vmax=60V, Imax=40A.
    资质说明：
  • 高温反偏
    能力名称：高温反偏
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：只测:Vmax=1500V，Imax=0.5A.
    资质说明：
  • 外观及机械检查
    能力名称：外观及机械检查
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：只测：10倍放大.
    资质说明：
  • 温度循环
    能力名称：温度循环
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：只测：-55℃～+150℃.
    资质说明：
  • 密封
    能力名称：密封
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：只测:1×100～105Pa·cm3/s.
    资质说明：
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检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
老炼试验 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 只测:Vmax=60V, Imax=40A.
高温反偏 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 只测:Vmax=1500V，Imax=0.5A.
外观及机械检查 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 只测：10倍放大.
温度循环 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 只测：-55℃～+150℃.
密封 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 只测:1×100～105Pa·cm3/s.