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中国科学院上海硅酸盐研究所无机材料分析测试中心中科院硅酸盐所无机材料测试中心

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无机材料

检测能力
  • 石棉定性
    能力名称:石棉定性
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:滑石中石棉含量测定 偏光显微镜-X射线衍射光谱法/SN/T 3231-2012
    限制说明:
    资质说明:
  • 纳米级长度
    能力名称:纳米级长度
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:纳米级长度的扫描电镜测量方法通则/GB/T 20307-2006
    限制说明:
    资质说明:
  • 微小颗粒形状
    能力名称:微小颗粒形状
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:透射电子显微镜方法通则/JY/T011-1996
    限制说明:
    资质说明:
  • 石棉定性
    能力名称:石棉定性
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:非金属矿中石棉的定性方法 X射线衍射-显微镜观察法/SN/T 2731-2010
    限制说明:
    资质说明:
  • 石棉定性
    能力名称:石棉定性
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:进出口化妆品中石棉的测定 第2部分:X射线衍射-偏光显微镜法/SN/T 2649.2-2010
    限制说明:
    资质说明:
  • 石棉定性
    能力名称:石棉定性
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:自行车车闸闸皮中石棉含量的测定 偏光显微镜-X射线衍射光谱法/SN/T 3131-2012
    限制说明:
    资质说明:
  • 元素定性和半定量分析(F-U)
    能力名称:元素定性和半定量分析(F-U)
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:波长色散型X射线荧光光谱方法通则/JY/T 016-1996
    限制说明:
    资质说明:
  • TG-DTA/DSC -MS(热重-差热分析/差示扫描量热-质谱)同时测定
    能力名称:TG-DTA/DSC -MS(热重-差热分析/差示扫描量热-质谱)同时测定
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:热分析方法通则/JY/T 014-1996
    限制说明:只测室温~1500°C,1~300amu
    资质说明:
  • 元素含量的半定量分析(Li-U)
    能力名称:元素含量的半定量分析(Li-U)
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:辉光放电质谱法过程及原则/AS 3685-1998
    限制说明:不测:He, Ne,Ar,Kr,Xe, Rn
    资质说明:
  • 相鉴定和晶体取向分析
    能力名称:相鉴定和晶体取向分析
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微束分析 电子背散射衍射分析方法通则/GB/T 19501-2013
    限制说明:
    资质说明:
  • 石棉定性
    能力名称:石棉定性
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:制品中石棉含量测定方法/GB/T 23263-2009
    限制说明:
    资质说明:
  • TG-DTA/DSC -MS(热重-差热分析/差示扫描量热-质谱)同时测定
    能力名称:TG-DTA/DSC -MS(热重-差热分析/差示扫描量热-质谱)同时测定
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:质谱分析方法通则/GB/T 6041-2002
    限制说明:只测室温~1500°C,1~300amu
    资质说明:

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
石棉定性 滑石中石棉含量测定 偏光显微镜-X射线衍射光谱法 SN/T 3231-2012
纳米级长度 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 20307-2006
微小颗粒形状 透射电子显微镜方法通则 JY/T011-1996
石棉定性 非金属矿中石棉的定性方法 X射线衍射-显微镜观察法 SN/T 2731-2010
石棉定性 进出口化妆品中石棉的测定 第2部分:X射线衍射-偏光显微镜法 SN/T 2649.2-2010
石棉定性 自行车车闸闸皮中石棉含量的测定 偏光显微镜-X射线衍射光谱法 SN/T 3131-2012
元素定性和半定量分析(F-U) 波长色散型X射线荧光光谱方法通则 JY/T 016-1996
TG-DTA/DSC -MS(热重-差热分析/差示扫描量热-质谱)同时测定 热分析方法通则 JY/T 014-1996 只测室温~1500°C,1~300amu
元素含量的半定量分析(Li-U) 辉光放电质谱法过程及原则 AS 3685-1998 不测:He, Ne,Ar,Kr,Xe, Rn
相鉴定和晶体取向分析 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则 GB/T 19501-2013