检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 | |||||
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静磁场 | 识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试 | GB/T 17554.1-20065.14 |
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卡的尺寸 | 识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试 | GB/T 17554.1-20065.2 |
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紫外线 | 识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试 | GB/T 17554.1-20065.12 |
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静磁场 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性 | GB/T 16649.1-2006 |
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紫外线 | 集成电路卡通用规范 第5部分:带触点的IC卡模块 | SJ/T 11231-2001 |
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动态弯曲压力(弯曲特性) | 识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试 | GB/T 17554.1-20065.8 |
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动态弯曲压力(弯曲特性) | 识别卡-非接触集成电路卡 近耦合卡-第1部分:物理特性 | ISO/IEC10536-1:2000 |
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动态扭曲压力(扭曲特性) | 识别卡-非接触集成电路卡 近耦合卡-第1部分:物理特性 | ISO/IEC10536-1:2000 |
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动态弯曲压力(弯曲特性) | 识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第1部分:物理特性 | GB/T 22351.1-2008 |
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动态弯曲压力(弯曲特性) | 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性 | GB/T 16649.1-2006 |
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