检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
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老炼试验 | 微电子器件试验方法和程序 | GJB548B-2005 | 只做:试验温度不超过150℃ |
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密封 | 微电子器件试验方法和程序 | GJB548B-2005 | 只做:细检漏使用试验条件A1,粗检漏使用试验条件C1 |
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稳定性烘焙 | 微电子器件试验方法和程序 | GJB548B-2005 | 只做:试验温度不超过150℃ |
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外部目检 | 微电子器件试验方法和程序 | GJB548B-2005 方法2009 |
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温度循环 | 微电子器件试验方法和程序 | GJB548B-2005 | 只做:-65℃~+150℃ |
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粒子碰撞噪声检测试验 | 微电子器件试验方法和程序 | GJB548B-2005 | 只做:最大质量400g,最长5cm |
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