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西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心西安西谷微电子元器件检测中心

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微电子器件

检测能力
  • 老炼试验
    能力名称:老炼试验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明:只做:试验温度不超过150℃
    资质说明:
  • 密封
    能力名称:密封
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明:只做:细检漏使用试验条件A1,粗检漏使用试验条件C1
    资质说明:
  • 稳定性烘焙
    能力名称:稳定性烘焙
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明:只做:试验温度不超过150℃
    资质说明:
  • 外部目检
    能力名称:外部目检
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005 方法2009
    限制说明:
    资质说明:
  • 温度循环
    能力名称:温度循环
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明:只做:-65℃~+150℃
    资质说明:
  • 粒子碰撞噪声检测试验
    能力名称:粒子碰撞噪声检测试验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明:只做:最大质量400g,最长5cm
    资质说明:

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
老炼试验 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只做:试验温度不超过150℃
密封 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只做:细检漏使用试验条件A1,粗检漏使用试验条件C1
稳定性烘焙 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只做:试验温度不超过150℃
外部目检 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2009
温度循环 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只做:-65℃~+150℃
粒子碰撞噪声检测试验 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 只做:最大质量400g,最长5cm