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西安卫光科技有限公司检测中心西安卫光检测中心

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半导体分立器件类电子元器件

检测能力
  • 冲击试验
    能力名称：冲击试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T2423.5-1995
    限制说明：只测最大加速度：2000g；脉冲宽度：最大20ms
    资质说明：
  • 随机振动试验
    能力名称：随机振动试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T 2423.14-1997
    限制说明：频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
    资质说明：
  • 随机振动试验
    能力名称：随机振动试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明：频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
    资质说明：
  • 高温试验
    能力名称：高温试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T2423.2-2008
    限制说明：只测：LC-222 166L W450*H820*D450(mm)TSG2055W 200LW650*H500*D450(mm)，温度范围：85℃~200℃
    资质说明：
  • 耐湿
    能力名称：耐湿
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB-548/B-2005
    限制说明：尺寸：PL-2GT•C 187.5L W500*H750*D500(mm)温度范围：-10℃~80℃ 湿度：95％
    资质说明：
  • 高压蒸煮
    能力名称：高压蒸煮
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T2423.40-1997
    限制说明：
    资质说明：
  • 扫频振动试验
    能力名称：扫频振动试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
    资质说明：
  • 耐湿
    能力名称：耐湿
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB-T2423.4-2008
    限制说明：尺寸：PL-2GT•C 187.5L W500*H750*D500(mm)温度范围：-10℃~80℃ 湿度：95％
    资质说明：
  • 振动疲劳
    能力名称：振动疲劳
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
    资质说明：
  • 随机振动试验
    能力名称：随机振动试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T 2423.13-1997
    限制说明：频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
    资质说明：
  • 低温试验
    能力名称：低温试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T2423.1-2008
    限制说明：只测：7001/LF2 100L W450*H500*D450(mm)，TSG2055W 200L W650*H500*D450(mm)温度范围：-70℃~-40℃
    资质说明：
  • 温度循环
    能力名称：温度循环
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T 2423.22-2002
    限制说明：尺寸：LC-222 166L W450*H820*D450(mm) 7001/LF2 100L W450*H500*D450(mm)，TSG2055W 200L W650*H500*D450(mm)温度范围：-75℃~200℃
    资质说明：
  • 恒定加速度
    能力名称：恒定加速度
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T 2423.15-2008
    限制说明：只测最大加速度：20000g
    资质说明：
  • 扫频振动试验
    能力名称：扫频振动试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB 548/B-2005 2007
    限制说明：频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
    资质说明：
  • 盐气侵蚀
    能力名称：盐气侵蚀
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A
    限制说明：
    资质说明：
  • 盐气侵蚀
    能力名称：盐气侵蚀
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548 B-2005
    限制说明：
    资质说明：
  • 温度循环
    能力名称：温度循环
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548 B-2005
    限制说明：尺寸：LC-222 166L W450*H820*D450(mm) 7001/LF2 100L W450*H500*D450(mm)，TSG2055W 200L W650*H500*D450(mm)温度范围：-70℃~200℃
    资质说明：
  • 温度循环
    能力名称：温度循环
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明：尺寸：LC-222 166L W450*H820*D450(mm) 7001/LF2 100L W450*H500*D450(mm)，TSG2055W 200L W650*H500*D450(mm)温度范围：-70℃~200℃
    资质说明：
  • 冲击试验
    能力名称：冲击试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：只测最大加速度：2000g；脉冲宽度：最大20ms
    资质说明：
  • 耐湿
    能力名称：耐湿
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明：尺寸：PL-2GT•C 187.5L W500*H750*D500(mm)温度范围：-10℃~80℃ 湿度：95％
    资质说明：
  • 耐湿
    能力名称：耐湿
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB-T2423.34-2005
    限制说明：尺寸：PL-2GT•C 187.5L W500*H750*D500(mm)温度范围：-10℃~80℃ 湿度：95％
    资质说明：
  • 随机振动试验
    能力名称：随机振动试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T 2423.12-1997
    限制说明：频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
    资质说明：
  • 随机振动试验
    能力名称：随机振动试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T 2423.56-1997
    限制说明：频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
    资质说明：
  • 耐湿
    能力名称：耐湿
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：尺寸：PL-2GT•C 187.5L W500*H750*D500(mm)温度范围：-10℃~80℃ 湿度：95％
    资质说明：
  • 随机振动试验
    能力名称：随机振动试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
    资质说明：
  • 恒定加速度
    能力名称：恒定加速度
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明：只测最大加速度：20000g
    资质说明：
  • 恒定加速度
    能力名称：恒定加速度
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：只测最大加速度：20000g
    资质说明：
  • 温度循环
    能力名称：温度循环
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：尺寸：LC-222 166L W450*H820*D450(mm) 7001/LF2 100L W450*H500*D450(mm)，TSG2055W 200L W650*H500*D450(mm)温度范围：-70℃~200℃
    资质说明：
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检测分类

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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
冲击试验 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 GB/T2423.5-1995 只测最大加速度：2000g；脉冲宽度：最大20ms
随机振动试验 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 GB/T 2423.14-1997 频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
随机振动试验 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
高温试验 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 GB/T2423.2-2008 只测：LC-222 166L W450*H820*D450(mm)TSG2055W 200LW650*H500*D450(mm)，温度范围：85℃~200℃
耐湿 微电子器件试验方法和程序 GJB-548 B-2005 尺寸：PL-2GT•C 187.5L W500*H750*D500(mm)温度范围：-10℃~80℃ 湿度：95％
高压蒸煮 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 GB/T2423.40-1997
扫频振动试验 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
耐湿 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 GB-T2423.4-2008 尺寸：PL-2GT•C 187.5L W500*H750*D500(mm)温度范围：-10℃~80℃ 湿度：95％
振动疲劳 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm
随机振动试验 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 GB/T 2423.13-1997 频率：5Hz～2000Hz；最大推力：3000N；最大位移：8mm