检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
---|---|---|---|---|
输出高电平电压 | 半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理 | GB/T17574-1998 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
![]() |
输入高电平电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
![]() |
输入低电平电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
![]() |
输出低电平电压 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
![]() |
电源电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
![]() |
功能测试 | 微电子器件试验方法和程序 | GJB548B--2005 | 电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
![]() |
输出低电平阈值电压 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
![]() |
输出高电平阈值电压 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
![]() |