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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心中电第十四研究所

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电子和电气产品CMOS电路

检测能力
  • 输出高电平电压
    能力名称：输出高电平电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输出高电平电流
    能力名称：输出高电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输入高电平电压
    能力名称：输入高电平电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输入低电平电流
    能力名称：输入低电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 功能测试
    能力名称：功能测试
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB548B--2005/
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输入高电平电流
    能力名称：输入高电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输入低电平电压
    能力名称：输入低电平电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输出高阻态时低电平电流
    能力名称：输出高阻态时低电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输出高阻态时高电平电流
    能力名称：输出高阻态时高电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输出低电平电流
    能力名称：输出低电平电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 电源电流
    能力名称：电源电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输出短路电流
    能力名称：输出短路电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输出低电平电压
    能力名称：输出低电平电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
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输出高电平电压 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
输出高电平电流 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
输入高电平电压 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
输入低电平电流 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
功能测试 微电子器件试验方法和程序 GJB548B--2005 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
输入高电平电流 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
输入低电平电压 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
输出高阻态时低电平电流 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
输出高阻态时高电平电流 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.
输出低电平电流 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA～+200mA；测试速率：50MHz.