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西安卫光科技有限公司检测中心西安卫光检测中心

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电子器件类电子元器件

检测能力
  • 引出端强度
    能力名称：引出端强度
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB 548/B-2005 2004.2
    限制说明：只测：10N、20N
    资质说明：
  • 耐溶剂
    能力名称：耐溶剂
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB 548/B-2005 2015.1
    限制说明：
    资质说明：
  • 耐溶剂
    能力名称：耐溶剂
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：
    资质说明：
  • 易焊性试验
    能力名称：易焊性试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：
    资质说明：
  • 引出端强度
    能力名称：引出端强度
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T 2423.29-2005
    限制说明：只测：10N、20N
    资质说明：
  • 引出端强度
    能力名称：引出端强度
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明：只测：10N、20N
    资质说明：
  • 盐气侵蚀
    能力名称：盐气侵蚀
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T 2423.18-2008
    限制说明：
    资质说明：
  • 盐气侵蚀
    能力名称：盐气侵蚀
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T 2423.17-2008
    限制说明：
    资质说明：
  • 易焊性试验
    能力名称：易焊性试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明：
    资质说明：
  • 盐气侵蚀
    能力名称：盐气侵蚀
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明：
    资质说明：
  • 易焊性试验
    能力名称：易焊性试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法/GB/T 2423.28-2005
    限制说明：
    资质说明：
  • 引出端强度
    能力名称：引出端强度
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明：只测：10N、20N
    资质说明：
  • 耐溶剂
    能力名称：耐溶剂
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明：
    资质说明：
  • 易焊性试验
    能力名称：易焊性试验
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序 GJB 548/B-2005 2003.1
    限制说明：
    资质说明：
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检测分类

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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
引出端强度 微电子器件试验方法和程序 GJB 548 B-2005 2004.2 只测：10N、20N
耐溶剂 微电子器件试验方法和程序 GJB 548 B-2005 2015.1
耐溶剂 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
易焊性试验 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
引出端强度 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 GB/T 2423.29-2005 只测：10N、20N
引出端强度 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 只测：10N、20N
盐气侵蚀 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 GB/T 2423.18-2008
盐气侵蚀 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 GB/T 2423.17-2008
易焊性试验 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
盐气侵蚀 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009