检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 | |||||
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输出低电平时电源电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
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输出低电平电压 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测0~±15V |
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功能测试 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 通道数:≤128 频率只测2kHz~100MHz |
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输出高电平电压 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测0~±15V |
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输入电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
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输出高阻态时低电平电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
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输出高阻态时高电平电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
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电源电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
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输出高电平时电源电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
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输出短路电流 | 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 | GB/T17574-1998 | 只测0~±5A |
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