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西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心西安西谷微电子元器件检测中心

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固体电解质钽电容器

检测能力
  • 密封（对密封电容器）
    能力名称：密封（对密封电容器）
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做：细检漏使用试验条件C，粗检漏使用试验条件D、E
    资质说明：
  • 外部目检
    能力名称：外部目检
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做： 8~50倍
    资质说明：
  • 内部目检
    能力名称：内部目检
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做：8～1000倍
    资质说明：
  • 制样镜检
    能力名称：制样镜检
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做： 8~1000倍
    资质说明：
  • X射线检查
    能力名称：X射线检查
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做：最小分辨≥1μm
    资质说明：
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检测分类

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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
密封（对密封电容器） 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做：细检漏使用试验条件C，粗检漏使用试验条件D、E
外部目检 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做： 8~50倍
内部目检 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做：8～1000倍
制样镜检 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做： 8~1000倍
X射线检查 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做：最小分辨≥1μm