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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心中电第十四研究所

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电子和电气产品集成电路筛选

检测能力
  • 温度循环
    能力名称：温度循环
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B--2005
    限制说明：只测：-55℃～+150℃.
    资质说明：
  • 粒子碰撞噪声检测
    能力名称：粒子碰撞噪声检测
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B--2005
    限制说明：只测：f=25Hz～250Hz,a=0.98m/s2～249.9 m/s2.
    资质说明：
  • 外部目检
    能力名称：外部目检
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：微电子器件试验方法和程序/GJB548B--2005
    限制说明：只测：10倍放大.
    资质说明：
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检测分类

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检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
温度循环 微电子器件试验方法和程序 GJB548B--2005 只测：-55℃～+150℃.
粒子碰撞噪声检测 微电子器件试验方法和程序 GJB548B--2005 只测：f=25Hz～250Hz,a=0.98m/s2～249.9 m/s2.
外部目检 微电子器件试验方法和程序 GJB548B--2005 只测：10倍放大.