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西安西谷微电子有限责任公司元器件检测中心西安西谷微电子元器件检测中心

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密封半导体集成电路

检测能力
  • 剪切强度
    能力名称：剪切强度
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做：0~5000g
    资质说明：
  • 外部目检
    能力名称：外部目检
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做： 8~50倍
    资质说明：
  • 粒子碰撞噪声检测（PIND）
    能力名称：粒子碰撞噪声检测（PIND）
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做：最大质量400g，最长5cm
    资质说明：
  • 内部目检
    能力名称：内部目检
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做：8～1000倍
    资质说明：
  • 键合强度
    能力名称：键合强度
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做：0~100g
    资质说明：
  • 密封
    能力名称：密封
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：军用电子元器件破坏性物理分析/GJB4027A-2006
    限制说明：只做：细检漏使用试验条件A1，粗检漏使用试验条件C1
    资质说明：
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检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
剪切强度 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做：0~5000g
外部目检 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做： 8~50倍
粒子碰撞噪声检测（PIND） 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做：最大质量400g，最长5cm
内部目检 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做：8～1000倍
键合强度 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做：0~100g
密封 军用电子元器件破坏性物理分析 GJB4027A-2006 只做：细检漏使用试验条件A1，粗检漏使用试验条件C1