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半导体集成电路微处理器及外围接口电路

检测能力
  • 功能测试
    能力名称:功能测试
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明:
    资质说明:
  • 输入高电平电流IIH
    能力名称:输入高电平电流IIH
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明:只测:±60 mA
    资质说明:
  • 输入低电平电流IIL
    能力名称:输入低电平电流IIL
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明:只测:±60 mA
    资质说明:
  • 静态工作电源电流
    能力名称:静态工作电源电流
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明:只测:­2A~+2A
    资质说明:
  • 输出高阻态电流IOZ
    能力名称:输出高阻态电流IOZ
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明:只测:±60 mA
    资质说明:
  • 输出高电平电压VOH
    能力名称:输出高电平电压VOH
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明:只测:­6V~+8V
    资质说明:
  • 输出低电平电压VOL
    能力名称:输出低电平电压VOL
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇/GB/T17574-1998
    限制说明:只测:­6V~+8V
    资质说明:

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
功能测试 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998
输入高电平电流IIH 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测:±60 mA
输入低电平电流IIL 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测:±60 mA
静态工作电源电流 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测:­2A~+2A
输出高阻态电流IOZ 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测:±60 mA
输出高电平电压VOH 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测:­6V~+8V
输出低电平电压VOL 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 只测:­6V~+8V