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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心中电第十四研究所

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电子和电气产品电压比较器

检测能力
  • 输入偏置电流
    能力名称：输入偏置电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理/SJ/T10805-2000
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 共模抑制比
    能力名称：共模抑制比
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理/SJ/T10805-2000
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 高电平输出电流
    能力名称：高电平输出电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理/SJ/T10805-2000
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输入失调电流
    能力名称：输入失调电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理/SJ/T10805-2000
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 电源电压抑制比
    能力名称：电源电压抑制比
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理/SJ/T10805-2000
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输入失调电压
    能力名称：输入失调电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理/SJ/T10805-2000
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 开环电压增益
    能力名称：开环电压增益
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理/SJ/T10805-2000
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 低电平输出电流
    能力名称：低电平输出电流
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理/SJ/T10805-2000
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输出低电平电压
    能力名称：输出低电平电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理/SJ/T10805-2000
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
    资质说明：
  • 输出高电平电压
    能力名称：输出高电平电压
    一级类别：
    二级类别：
    标准名称/编号：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理/SJ/T10805-2000
    限制说明：只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
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输入偏置电流 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2000 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
共模抑制比 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2000 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
高电平输出电流 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2000 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
输入失调电流 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2000 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
电源电压抑制比 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2000 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
输入失调电压 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2000 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
开环电压增益 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2000 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
低电平输出电流 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2000 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
输出低电平电压 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2000 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.
输出高电平电压 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T10805-2000 只测：电压范围：-25V～+25V；电流范围：-200mA~+200mA;测试速率：50MHz.