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西安卫光科技有限公司检测中心西安卫光检测中心

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半导体分立器件类固定电阻器

检测能力
  • 易燃性试验
    能力名称:易燃性试验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体器件机械和气候试验方法/GB/T4937.1-2006
    限制说明:
    资质说明:
  • 老炼试验
    能力名称:老炼试验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明:
    资质说明:
  • 温度系数
    能力名称:温度系数
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明:
    资质说明:
  • 直流电阻
    能力名称:直流电阻
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明:
    资质说明:
  • 外观及机械检验
    能力名称:外观及机械检验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明:
    资质说明:
  • 高温寿命
    能力名称:高温寿命
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:半导体分立器件试验方法/GJB128A-97
    限制说明:只测:LC-222 166L W450*H820*D450(mm)LC-223 166L W600*H750*D500(mm)DGF30022B 166LW600*H750*D500(mm) ,温度范围:85℃~175℃
    资质说明:
  • 高温寿命
    能力名称:高温寿命
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:电子及电气元件试验方法/GJB360B-2009
    限制说明:只测:LC-222 166L W450*H820*D450(mm)LC-223 166L W600*H750*D500(mm)DGF30022B 166LW600*H750*D500(mm) ,温度范围:85℃~175℃
    资质说明:
  • 老炼试验
    能力名称:老炼试验
    一级类别:
    二级类别:
    标准名称/编号:微电子器件试验方法和程序/GJB548B-2005
    限制说明:
    资质说明:

检测分类

全部

检测能力 检测标准 标准编号 限制范围 资质说明
易燃性试验 半导体器件机械和气候试验方法 GB/T4937.1-2006
老炼试验 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
温度系数 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
直流电阻 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009
外观及机械检验 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
高温寿命 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 只测:LC-222 166L W450*H820*D450(mm)LC-223 166L W600*H750*D500(mm)DGF30022B 166LW600*H750*D500(mm) ,温度范围:85℃~175℃
高温寿命 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 只测:LC-222 166L W450*H820*D450(mm)LC-223 166L W600*H750*D500(mm)DGF30022B 166LW600*H750*D500(mm) ,温度范围:85℃~175℃
老炼试验 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005