检测能力 | 检测标准 | 标准编号 | 限制范围 | 资质说明 |
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开环电压增益 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | QJ 2491-1993 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
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输入失调电流 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | QJ 2491-1993 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
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共模抑制比 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | QJ 2491-1993 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
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输入失调电压 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | QJ 2491-1993 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
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输入偏置电流 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | QJ 2491-1993 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
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输出短路电流 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | QJ 2491-1993 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
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电源电压抑制比 | 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 | QJ 2491-1993 | 只测:电压范围:-25V~+25V;电流范围:-200mA~+200mA;测试速率:50MHz. |
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