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X射线光电子能谱仪
- 制造厂商：KRATOS ANALYTICAL 公司
- 购置日期：2011-06-30
- 型号：AXIS ULTRA DLD
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： 主要用于固体材料表面元素成份及价态的定性、定量分析，以及元素组成的深度剖析和成像。可广泛应用于金属、无机材料、半导体材料、聚合物、涂层材料等各种材料的研究。对腐蚀、摩擦、润滑、粘接、包覆、氧化等表面化学和物理现象的机理研究。
- 主要附件： 能量分析器，样品操控台，电子源，X射线源，计算机系统
- 主要技术指标： 180度半球和球镜组合。平均半径165毫米。输入透镜：静电与专利磁透镜多组元组合。放大率：可编程。检测器：带最多128通道延迟线阳极的多通道板。扫描模式：固定分析器传输-FRR。能量范围：0-3200eV,0-1500eV(高分辨）。通能：可编程，5-320eV。阻滞率：可编程，3-14。极性：负（标准）、正（标准）。样品台：XYZθ（自动/手动）。样品个数：1/10/可变。样品移动（手动台）：X：-10～+15毫米。Y/Z：±10毫米。样品移动（自动台）：X：150毫米。Y/Z：±7.5毫米。样品倾斜：
- 技术特色： 暂无
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