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MEMS晶圆测试系统(探针台)
制造厂商:美国 Solidus
购置日期:2000-01-01
型号:Solidus STI3000
生产国别:
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功能/应用范围: 进行加速度、陀螺仪、麦克风、气压等电容式传感器的晶圆级测试 测试静态和动态参数
主要附件: Electro glass Wafer Handler Model EG2001
主要技术指标: STI3000 High Performance Wafer Probe Test System Electroglass Wafer Handler Model 2001 STI Custom Production Test Code STI System Integration Device Specific Probe Cards (PCB only)
技术特色: 通过静电力驱动,测试MEMS传感器的动态参数。
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