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场发射透射电镜

  • 制造厂商： FEI
  • 购置日期：2000-01-01
  • 型号： Tecnai G2 F30
  • 生产国别：
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仪器分类

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仪器详情
  • 功能/应用范围： Tecnai G2 F30 是一个真正多功能，多用户环境的先进仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、HRSTEM、电子衍射、EDX、TEM-三维重构和STEM-三维重构等)一体化，形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。
  • 主要附件： EDAX X－射线能谱仪 STEM-HAADF高角环形暗场探头 Gatan994Ultriscan相机 三维重构
  • 主要技术指标： 加速电压：300KV 电子枪:肖特基场发射电子枪 分辨率:点分辨率：0.205 nm 线分辨率：0.102 nm 信息分辨率：0.14nm HR STEM分辨率：0.16nm EDX分辨率：136eV 放大倍数:TEM 模式 60X？D1000KX HAADF STEM模式 200X？D100M
  • 技术特色： Tecnai G2 F30 是一个真正多功能，多用户环境的先进仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、HRSTEM、电子衍射、EDX、TEM-三维重构和STEM-三维重构等)一体化，形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。