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场发射透射电子显微镜
- 制造厂商：JEOL
- 购置日期：2008-06-06
- 型号：JEM-2100F
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： 材料内部微观结构分析；样品微区的元素成分及其分布的分析；加热或冷冻情况下材料微观结构的分析；一维纳米材料的原位电学性能和力学性能测试。
- 主要附件： STEM探测器、HAADF探测器，IET 200型X射线能量色散谱仪(英国Oxford)， 652型双倾加热样品台，613型单倾冷冻样品台，SA2000型原位纳米材料单体力学性能表征单倾样品台，ST1000型原位纳米材料单体电学性能表征单倾样品台。
- 主要技术指标： 加速电压: 80～200 kV；放大倍数:TEM 50～1,500,000，STEM（HAADF）100～50，000,000；TEM点分辨率: ≤0.19nm，TEM晶格分辨率: ≤0.10 nm；STEM（HAADF）分辨率: ≤0.20nm；元素检测范围：5B～92U。
- 技术特色： JEM-2100F 应用广泛，从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F，不仅可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。它的点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.14nm。
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