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场发射扫描电镜

  • 制造厂商：FEI 公司
  • 购置日期：2000-01-01
  • 型号：Nova NanoSem 450
  • 生产国别：
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仪器分类

全部

仪器详情
  • 功能/应用范围： 对样品进行形貌观察和成分分析。 主要应用于纳米颗粒与粉末，纳米管和纳米线，催化剂和发光材料
  • 主要附件： 牛津能溥仪
  • 主要技术指标： 分辨率： 高真空成像，最佳工作距离 0.8 nm @ 30kV (STEM) 1.0 nm @ 15 kV (TLD-SE) 1.4 nm @ 1 kV (TLD-SE)，非减速模式 3.5 nm @ 100 V (DBS) 高真空分析，分析工作距离 3.0nm @ 15 kV & 5nA (TLD-SE) 低真空成像， 最佳工作距离 1.5 nm @ 10 kV (Helix探测器) 1.8 nm @ 3 kV (Helix探测器)
  • 技术特色： 擅长做薄膜样品，导电性较差的样品 。