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场发射透射电子显微镜
- 制造厂商：FEI公司
- 购置日期：2000-01-01
- 型号：Tecnai G2 F20 S-TWIN
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： 该仪器主要应用于对无机材料的内部微观结构分析，配合能谱仪可以对微区进行定性及半定量的成分分析。具体功能包括选区衍射、微束衍射、会聚束衍射、衍衬像（明、暗场像）、低倍形貌像、高分辨像 (HRTEM)、高角环形暗场像（Z-衬度像）以及元素的点、线和面分析。
- 主要附件： 0
- 主要技术指标： 1、电子枪：FEG场发射电子枪
2、加速电压: 200 kV
3、放大倍数: 25X – 1050000X
4、点分辨率: 0.24nm
5、线分辨率: 0.14 nm
6、STEM (HAADF)分辨率: 0.19nm
7、样品最大倾斜角度: α±40°β±25°
8、元素检测范围：5B-92U；
9、能谱能量分辨率: 136ev
- 技术特色： 0
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