只有通过实名认证的机构用户,才可以进入管理后台哦。
大气下扫描探针显微镜
- 制造厂商：美国Digital Instrument公司
- 购置日期：1999-04-01
- 型号：Nanoscope IIIa
- 生产国别：
免费咨询
- 功能/应用范围： 包括原子力显微镜（Atomic Force Microscope,以下简称AFM）、扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope,以下简称STM）；可进行表面形貌分析, 表面侧向力分析
- 主要附件： 无
- 主要技术指标： 最大扫描范围：162 μm×162 μm 最大垂直扫描范围：6.125μm 最高水平分辨率：0.1nm 最高垂直分辨率：0.01nm
- 技术特色： 1.原子级高分辨率。如STM在平行和垂直于样品表面方向的分辨率分别可达0.1nm和0.01nm，即可以分辨出单个原子，具有原子级的分辨率。2、可实时地得到实空间中表面的三维图像，可用于具有周期性或不具备周期性的表面结构研究。3.不需要特别的制样技术，并且探测过程对样品无损伤。
收藏仪器
