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气溶胶纳米粒子分析系统
- 制造厂商：TSI公司
- 购置日期：2005-12-09
- 型号：3940&3936
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： 1.对纳米晶片表面粗糙度的检测设备（SSIS）的校准关键技术进行探索，基本上掌握了纳米单分散PSL标准粒子的产生、电迁移分级、静电沉积和气溶胶纳米粒子测量技术，对我国有自主知识产权的纳米芯片生产提供服务。
2.项目用美国标准技术研究院（NIST）的标准粒子校准扫描电迁移分析系统（SMPS），解决了该系统粒径测量的溯源问题。对大气云层，城市上空颗粒物分布统计、空气污染、环境治理的研究有很大的意义。
3.气相法纳米粒子制备在线检测，控制粒径参数条件能够及时的反馈。
4.可开展激光粒子计数器、凝聚核粒子计数器的
- 主要附件： 无
- 主要技术指标： 本系统的主要技术指标：气溶胶粒径测量范围：3～1000nm，浓度上限为千万个/立方厘米，对NIST100nm标准粒子测量的扩展不确定度为3nm。
- 技术特色： 样品制备简单，测试周期短，可进行多分散的颗粒物检测，给出粒径和数量浓度的分布。
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