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原位X-射线物质结构分析仪

  • 制造厂商:德国Bruker AXS公司
  • 购置日期:2012-09-07
  • 型号:D8 Discover A 25
  • 生产国别:
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仪器详情
  • 功能/应用范围: 常规金属和非金属多晶粉末样品物相分析;现场研究材料合成过程中,材料晶体结构(电池材料、催化剂和高分子化合物等)随温度(高温和低温)变化的规律或各种物质相互溶解度的变化;电池材料在充放过程中材料的结构变化。
  • 主要附件: 高温样品台,中低温样品台
  • 主要技术指标: X射线发生器:最大输出功率:3 kW, 电流电压稳定度:优于0.005% (外电压波动10%)时;光管功率:2 kW;最大管压:50 kV;最大管流:60 mA。 测角仪:采用光学编码器技术;扫描方式:测角仪,测角仪垂直放置;测角仪半径:185~285 mm 可调,非对称调整(样品至捡测器距离调整,光源至样品距离不变);2转动范围:-110~168 ;可读最小步长:0.0001 
  • 技术特色: