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透射电子显微镜
- 制造厂商：JEOL
- 购置日期：2012-05-04
- 型号：JEM-ARM200F
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- 功能/应用范围： 原子级超高分辨率的STEM像，STEM Cs Corrector，配有EDX,EELS附件及能量过滤器，用于纳米尺度区域成分分析
- 主要附件： EDS, EELS
- 主要技术指标： STEM HAADF 分辨率0.078nm，BF分辨率0.136nm，光束漂移小于0.1nm/min，样品漂移小于0.5nm/min，球差矫正系数C3<±5微米，图像噪音<0.1nm，EELS能量分辨率<0.33eV
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