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X射线光电子能谱仪
- 制造厂商：SHIMADZU/KRATOS
- 购置日期：2009-12-12
- 型号：Kratos AXIS Ultra DLD
- 生产国别：英国
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- 功能/应用范围： 除H、He外的元素鉴定；通过光电子峰、俄歇电子峰结合能的变化考察化学价态；原位/准原位反应研究催化反应中间过程；表面元素相对百分含量与配位状态研究；特定元素成像获得元素空间分布信息；
- 主要附件： XPS高温原位反应池
- 主要技术指标： 能量分辨率： 0.48 eV (Ag 3d5/2)
采样深度： 1-10 nm
采样区域： 15- 2000 μm椭圆
成像空间分辨率： 3 μm
分析腔压力： 5 × 10-10 mbar
X-射线源最大功率： 450 W
单色化Al Kα半峰宽：<0.26 eV
能量分析器半径：165 mm
检测器： 128通道DLD检测器
荷电中和方式：同轴荷电中和
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