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光电子能谱仪
- 制造厂商:日本慎空
- 购置日期:2007-10-20
- 型号:PH1500C
- 生产国别:
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- 功能/应用范围: 分析样品近表面(5nm)和本体的元素组成,化学态。对多种价态元素,可以自动分峰拟合,并给出不同价态之间的原子比。可进行最小10μm范围的微区分析。
- 主要附件: 无
- 主要技术指标: 1.能够以10μm的空间分辨率对半导体、金属和树脂等各种材料进行定点表面分析。
2.通过Ar离子枪,可以实现表面深度超过10 nm的元素组成和化学结合状态进行分析。
3.可以分析元素组成随扫描深度的变化关系。
4.最低能量扫描进度可以达到0.025 eV,元素含量分析最低值为千分之五。
- 技术特色: 在测量方面能够以10μm的空间分辨率对半导体、金属和树脂等各种材料进行定点表面分析。
同时,通过Ar离子枪,可以实现表面深度超过10 nm的元素组成和化学结合状态进行分析。
可以分析元素组成随扫描深度的变化关系。最低能量扫描进度可以达到0.025 eV,元素含
量分析最低值为万分之五。在数据后处理方面,可以对样品电子结合能进行自动校正及可
能价态分析。对多种价态元素,可以自动分峰拟合,并给出不同价态之间的原子比。同时
可进行最小10μm范围的微区分析。