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X射线荧光测厚仪

  • 制造厂商：CMI公司
  • 购置日期：1998-03-04
  • 型号：CMI XRX-XYZ
  • 生产国别：美国
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仪器分类

全部

仪器详情
  • 功能/应用范围： 贵金属及非贵金属覆盖在异质材料上厚度定量分析,覆盖层均匀性分析,衬底材料成分定性分析。
  • 主要附件：
  • 主要技术指标： 程序控制XYZ坐标测量台：程控搜索 X=152mm,Y=178mm,Z=33mm；频谱分析；X光管高压0-50KV(256级)自动设定，高压44.7KV；X光管电流0-1mA(256级)自动设定，工作电流0.797mA(待机0.211mA)；Be窗正比计数器，内充Xe气；准直器：0.05*0.25,0.05*0.05等。
  • 技术特色： 样品接触范围广，综合分析能力强，尤为对贵金属材料镀层厚度进行定量分析，权威性高（国家测试中心）。