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变角度变波长椭圆偏振仪

  • 制造厂商:J.A.Woollam
  • 购置日期:2000-06-01
  • 型号:WVASE32TM
  • 生产国别:美国
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仪器详情
  • 功能/应用范围: 测量薄膜膜厚及其光学常数,如折射率、消光系数、吸收系数、复介电函数等;测定材料的多层结构和表面粗糙度;研究梯度膜层和透明薄膜的折射率和厚度,光学常数的梯度变化
  • 主要附件: 聚焦系统:光斑可达直径200μm或更小(400-100nm);自动相位补偿器:实现0-360o范围内准确测量Δ;液体样品池
  • 主要技术指标: 光谱范围:200-1700nm连续可调;光谱分辨率:0.5nm;光束直径:1mm;光束发散角:0.05o;测量速度:每个波长1-2s重复性:ψ+/-0.015o,Δ+/-0.08o(与测量条件有关);入射角:20-90oC连续可调,重复性优于0.005o; X-Y移动台:150mm×150mm
  • 技术特色: 样品接触范围广,综合分析能力强;对特殊样品的处理有较丰富的经验