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场发射扫描电子显微镜
- 制造厂商:日立
- 购置日期:2007-07-09
- 型号:4800
- 生产国别:
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- 功能/应用范围: 1、对所有类型样品提供表面及横截面微细结构观察及分析;
2、针对多层结构样品提供精准的膜厚量测及标示;
3、借由EDS的X光谱线分析对材料做定性及半定量分析或特定区域的点,线,面的成份分布分析;
4、借由低能量的电子束扫描做被动式影像对比(Passive Voltage Contrast, PVC)对于不良漏电或接触不良的组件损坏可以精准的定位,提供异常分析之判断;
5、样品借由层次去除技术(Delayers),提供SEM做电路自动连拍拼接生成的图文件,可以与光学显微镜生成的图像做纵向连结,提供电
- 主要附件: 带全元素的EDX附件
- 主要技术指标: 1、分辨率0.2um 2、放大倍率;800K 3、加速电压 30kv 4、低压范围 大于0.2kv 5、探针电流 10PA 6、样品室 4寸硅片 7、样品台 8、倾斜角 小于60度
- 技术特色: 积多年实际操作经验