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扫描超声波显微镜
- 制造厂商：HITACHI
- 购置日期：2008-08-19
- 型号：FS300
- 生产国别：
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- 功能/应用范围： 超音波主要用来检测、解析IC 内部不同位置的脱层、气洞、裂痕及粘着状况，随着IC 的微细化发展，超音波也将朝向高频，高Dumping、超 微细Beam 的方向发展。
此设备可以用来评估半导体电子业之封胶化合物，适合检查封胶内的微小缺陷：
．封装裂缝
．脱层(Delamination)
．晶粒裂缝
．树脂内气泡
．晶粒附着不良
．焊线不良
闳康科技之超音波检验系统特色可有3D成像， 实时3D成像，0.5um高度分辨率，1000mm/秒高速度，A扫瞄(A-scan)，B扫瞄(B-sca
- 主要附件： 无
- 主要技术指标： １.材料内部的晶格结构，杂质颗粒．夹杂物．沉淀物．2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙
- 技术特色： 积多年实际操作经验
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