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金相切片显微系统

  • 制造厂商：日本
  • 购置日期：2009-10-13
  • 型号：BX51M
  • 生产国别：
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仪器分类

全部

仪器详情
  • 功能/应用范围： 高景深显微观察/电子产品
  • 主要附件： 50X、100X物镜，长度测量软件,金相试样研磨机、测量显微镜
  • 主要技术指标： 高倍数，暗场观察，配有测量软件，可对感兴趣部位进行长度测量
  • 技术特色： 高倍数，暗场观察，配有测量软件，可对失效位置进行长度测量